NEC marca presença no Fórum Nacional de Tecnologia e Inovação na Segurança Pública
São Paulo--(DINO - 22 jun, 2017) - Com ampla experiência na implantação de sistemas de ponta em identificação no âmbito público, com atuação nos estados do Rio Grande do Sul, Goiás e no Distrito Federal, a NEC participou mais uma vez do Fórum Nacional de Tecnologia e Inovação na Segurança Pública, que aconteceu nos dias 20 e 21 de junho, em Porto Alegre (RS).
O evento, que é uma iniciativa do Instituto de Perícia do Rio Grande do Sul, é um dos mais relevantes da área no País, uma vez que reúne anualmente renomados profissionais da área para a apresentação de novidades do segmento, visando o intercâmbio de informações.
A NEC, proprietária das soluções de biometria digital mais avançadas do mercado, segundo o NIST (U.S. National Institute of Standards and Technology), instituto norte-americano responsável pela avaliação dessas ferramentas em todo mundo, apresentou no estande da empresa as ofertas presentes em seu portfólio e aderentes às necessidades da sociedade brasileira. No dia 21 de junho, o especialista em biometria digital da NEC no Brasil, Cristiano Blanez, ministrou a palestra com o tema "Padrões e Interoperabilidade em Sistemas de Identificação".
De acordo com Blanez, o assunto torna-se cada vez mais atual e importante à medida que os órgãos públicos adotam plataformas de identificação e precisam compartilhar suas informações com outras equipes. "O conteúdo da minha palestra teve como objetivo reforçar a necessidade de adoção de sistemas robustos, que sejam compatíveis com outros diferentes e que também tenham padrões abertos. Esse fator é essencial, inclusive, para o alinhamento dos sistemas em todo Brasil, que representa uma demanda fundamental para a agenda do setor no contexto nacional", afirma.
O especialista, durante a palestra, expôs um case da NEC dos Estados Unidos, conhecido como WIN (Western Identification Network), que traz uma experiência de padrão aberto que tem colaborado fortemente para as investigações conjuntas e não somente de forma isolada naquele país.
Website: http://www.nec.com.br
O evento, que é uma iniciativa do Instituto de Perícia do Rio Grande do Sul, é um dos mais relevantes da área no País, uma vez que reúne anualmente renomados profissionais da área para a apresentação de novidades do segmento, visando o intercâmbio de informações.
A NEC, proprietária das soluções de biometria digital mais avançadas do mercado, segundo o NIST (U.S. National Institute of Standards and Technology), instituto norte-americano responsável pela avaliação dessas ferramentas em todo mundo, apresentou no estande da empresa as ofertas presentes em seu portfólio e aderentes às necessidades da sociedade brasileira. No dia 21 de junho, o especialista em biometria digital da NEC no Brasil, Cristiano Blanez, ministrou a palestra com o tema "Padrões e Interoperabilidade em Sistemas de Identificação".
De acordo com Blanez, o assunto torna-se cada vez mais atual e importante à medida que os órgãos públicos adotam plataformas de identificação e precisam compartilhar suas informações com outras equipes. "O conteúdo da minha palestra teve como objetivo reforçar a necessidade de adoção de sistemas robustos, que sejam compatíveis com outros diferentes e que também tenham padrões abertos. Esse fator é essencial, inclusive, para o alinhamento dos sistemas em todo Brasil, que representa uma demanda fundamental para a agenda do setor no contexto nacional", afirma.
O especialista, durante a palestra, expôs um case da NEC dos Estados Unidos, conhecido como WIN (Western Identification Network), que traz uma experiência de padrão aberto que tem colaborado fortemente para as investigações conjuntas e não somente de forma isolada naquele país.
Website: http://www.nec.com.br